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   超周详光学应力丈量装备

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超周详光学应力丈量装备

150AT全自动应力双折射丈量体系 全自动应力双折射丈量体系

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所属品牌:

技术服务职员:田工(Allen)

电话:185 0166 2513

邮箱:jinquan-tian@auniontech.com

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150AT全自动应力双折射丈量体系

 

全自动应力双折射丈量体系


150AT 应力双折射体系是Hinds应力双折射丈量体系家属系列产品。该应力双折射丈量体系既可作为实验室科研探究丈量光学组件应力散布丈量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑制品等工业生产中检测产物应力散布。产物软件直观显现待测样品应力状况,便于操纵和一样平常监测。

 

150AT 应力双折射体系能够凭据客户需求选择设置,使得丈量更有针对性(高精度/大局限相位提早量),体系有着极高丈量速度的同时也具有极高的丈量区分才能(<1 mm="" grid="" spacing="">



产物特性

主动X/Y位移平台扫描
二维/三维图形/参数表格显现样品应力散布丈量效果
台式整机设想组装
天真位移平台设想,知足个性化定制需求
壮大数据拟合剖析功用和友爱用户界面

 

参数


高精度丈量体系选项

大局限相位提早量丈量选项

相位提早量局限:

0.005 to 120+   nm

0.005 to 300+   nm

相位提早量丈量分辨率/
 
反复精度1, 2, 3:

0.001 nm / ±   0.008 nm

0.0

1 nm / ± 0.015   nm

角度丈量分辨率 /
 
反复精度1:

0.01º / ±   0.05°

0.01º / ±   0.07°

丈量速度 / 工夫4:

up to 100 pps   /
  sample size dependent


尺寸:

910 mm (H) x   415 mm (W) x 700 mm (D)


光源波长5:

Various (632.8   nm standard)


丈量光斑6:

Between 1 mm   and 3 mm native
  (can be as low as 50 µm)


内置丈量调制频次:

PEMLabsTM Photoelastic   Modulator
  50 kHz or 50/60 kHz


解调剖析手艺:

Hinds   Instruments SignalocTM
  Lock-in Amplifier or Wave Form
  Capture Card


丈量单元:

nm   (retardation), ° (angle)


 

1 Typical performance at 5 nm retardation

2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter

3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter

4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.

5 Custom wavelengths available

6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module

 

选项:

* Additional Polarization Parameters

* 超高速扫描选项

* 光谱扫描丈量和RGB丈量

* 客户定制内置波长选项(紫外/红外)

* 手动/主动倾斜位移平台装配

* 定制样品平台加持谁记

* 定制化显现界面 (UI or DLL)

* 应力盘算评价软件



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产物标签:超周详光学应力丈量装备,应力双折射体系,Hinds双折射丈量体系,150AT 应力双折射体系

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