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   XperRam Photocurrent光电流成像光谱体系

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XperRam Photocurrent光电流成像光谱体系

用于质料表面光电流散布特性的激光共聚焦光电流成像光谱体系,带高温探针台。

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技术服务职员:刘工(Bridge)

电话:156 0161 2521

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XperRam Photocurrent光电流成像光谱体系


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    Nanobase的光电流成像体系XperRam Photocurrent Mapping system 应用了显微成像扫描手艺,对样品外面做一个快速扫描。发生的光电流旌旗灯号经由过程探针引到电流源表,再显现在软件界面,做成成像图显现样品外面电流散布。

      光电流成像体系Photocurrent Mapping System 又称为扫描光电流显微成像体系,用来检测质料光电流强度散布的专用设备,重要用来丈量光电质料的光电相应旌旗灯号和表征质料的光电特性。XperRam Photocurrent Mapping system 光电流成像体系将光电质料关于光旌旗灯号相应的不均匀性以可视化和量化的体式格局显现出来。该体系能够研讨光电探测器的量子效力,器件的电阻散布特性,研讨太阳能电池光死电流的不均匀性,研讨器件吸取和电荷天生的微区特性,和光电质料界面,半导体结区的品格散布等。

全部体系的个组成如下图,包含光源(激光器大概一连光源),显微镜,激光扫描振镜,数字源表,探针台和计算机软件等。激光经由过程扫描振镜,扩束镜,经由显微镜聚焦到样品外面,激光引发发生光电效应(电流),电流旌旗灯号经由过程探针引出至电流源表,再读出至电脑软件,扫描时,振镜是经由过程偏振光控制器掌握,激光的光斑再样品的XY方向上扫描挪动,软件纪录每个激光聚焦光斑的位置和其对应的电流值,在软件的一侧,同步描绘出光电流成像图,显现了样品的电流散布。


功用形貌

l  光电流成像(Photocurrent Measurement and Imaging )

                          光电流体系探针台                                                                 三星光电院定制的光电流体系


光电流成像图和电流计数值

                      浅易光电流平台(Side plate)                  定位体PB100                 定位器Holder PH-C15             探针尖端M5BG

产物特性

Ø  超快扫描成像(大于1000谱/S)

Ø  超松散构造(光电流扫描成像和显微镜一体式设想)

Ø  本钱低(客户仅需求在本来的探针台大概装备上做改作育能够,不需要分外购置平移台,这是振镜扫描的上风地点)

Ø  可视化和人性化软件(定制研发了电流源表输出和成像扫描视觉窗口,客户在一个界面实现光电流数据和成像mapping的对照对照轻易)

Ø  可扩大增添别的波长的激光器,增添推曼光谱,荧光光谱成像体系等

Ø  可增加下高温恒温器,放大器,斩波器等


基本参数

激光器(光源)

l  可设置1~3个激光器,窄线宽激光器用于推曼光谱测试和光电流测试

l  波长局限: 400~1550nm (典范的为 VIS: 405nm/532nm/633nm,   NIR :1550nm)

l  可选配一个接口用于接入内部激光器光源

l  可选配谱白光激光器(400nm~2400nm)

显微镜

l  奥林巴斯显微镜:BX61 (正置)(可凭据客户要求选配)

l  反射式/透射式LED照明

l  物镜:标配(40X, NA=0.75) 选配:多种倍率和超长焦距物镜

l  透过率:>60% (360nm~1000nm)

扫描模块

l  扫描面积:200um×200um

l  扫描精度:   小于10nm

l  步进:<50nm

l  扫描速度:>1000 谱/秒

电流

l  丈量局限:1pA – 1A

l  准确度: 0.04%

l  电流源表:Keithley 2400

探针台

l  可凭据客户要求定制

别的

l  高温恒温器(2.2K)/下温热台(1500℃)

l  凭据客户要求定制探针台

l  可选配斩波器,前置放大器,锁相放大器等进步体系灵敏度

  

探针台参数:

探针台

6寸真空吸附卡盘,

光谱局限

750px-1到150000px-1

XY偏向挪动局限

150 x 150mm, 分辨率5um FOV:200µm x 200µm@40X物镜

Z偏向挪动局限

/10mm, 分辨率1um

探针头

金,钨

高精度定位器

PH-C15, 10fA leakage current 4SET










应用领域

石墨烯,二维质料,半导体产业,结晶度剖析,太阳能电池,储能质料,探测器光电机能检测,晶圆体剖析,探测器检测,器件吸取和电荷天生的微区特性。


 

相干文献

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产物标签:探针台,推曼光谱成像,PL,荧光光谱成像,光电流光谱成像,推曼 mapping,PL mapping,photocurrent mapping,光电流mapping,荧光mapping,共聚焦推曼光谱仪,Ranman spectrometer,Confocal Raman imaging, Photocurrent mapping, TCSPC, FLIM, Fluorescence time life,荧光寿命检测,二维质料检测,光电流成像体系,2D material,石墨烯检测,graphene,Mo

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