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   激光过问膜薄测量仪

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激光过问膜薄测量仪

Xper-IP激光过问膜薄测量仪

所属种别: »

所属品牌:

技术服务职员:王工(Martin)

电话:156 1812 6828

邮箱:liang-wang@auniontech.com


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Xper-IP激光过问膜薄测量仪


Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光谱过问手艺的一款激光过问膜厚仪,是一种非打仗式、无损的、且快速的光学薄膜厚度丈量装备。Xper-IP可用于丈量种种质料(如种种薄膜,镀膜,显现面板等)的厚度。


薄膜测厚仪,激光,膜薄测量仪,激光过问薄膜丈量体系



韩国Nanobase公司是一家专注于激光和光谱丈量范畴的高科技公司,旗下有多种产物,包孕光谱成像体系,OCT光学相关断层扫描体系,和激光过问薄厚测量仪。


Xper-IP恰是基于Nanobase特有的光谱过问手艺的一款膜薄测量仪,是一种非打仗式、无损的、且快速的光学薄膜厚度丈量装备。Xper-IP可用于丈量种种质料(如种种薄膜,镀膜,显现面板等)的厚度,产物具有以下特性:

 

精度 ±0.2 %

反复准度 ±0.003 %

超宽丈量局限 10 mm to 1 mm
人性化软件,易于运用

性价比下

同时丈量多层膜薄

构造结实,适用于实验室和产业情况


参数


型号

Xper-ITP(激光过问测薄)

Xper-ISP(激光过问测外面描写)

丈量局限

100-1000微米,200-2000微米,(大概定制波长局限,取分辨率成反比)

准确度

±0.2 %

重复性

单点:0.01% full range<>

均匀:0.003% full range<>

速度

激光:尺度30pps,(最大100000pps

光源

激光:SLD(840nm)


应用领域


半导体,太阳能,SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk



平板显现Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film



光学薄膜,医用聚合物质料等,AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.



丈量道理



原理图



示例




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产物标签:薄膜测厚仪,激光干涉仪,膜薄测量仪,激光过问薄膜丈量体系

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