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高度尺度块

SILIOS公司供应各中接纳其手艺消费的垂直高度尺度块,重要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探

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高度尺度块


SILIOS公司供应各中接纳其手艺消费的垂直高度尺度块,重要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探针显微镜(SPMs)的校准事情。高度从 1nm到 20 nm.


Code

Step Height Range(1)

SIL020

20 nm

SIL010

10 nm

SIL005

5 nm

SIL001

< 3="">


Tolerances : Typical : +/- 1 nm
Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)




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